Новости Семинар-практикум Тестирование параметров материалов и полупроводниковых устройств

Новости Семинар-практикум Тестирование параметров материалов и полупроводниковых устройств

Семинар-практикум Тестирование параметров материалов и полупроводниковых устройств   24.10.2019

Семинар-практикум Тестирование параметров материалов и полупроводниковых устройств Семинар-практикум
Тестирование параметров материалов и полупроводниковых устройств

Компания Keysight Technologies проводит семинар-практикум «Тестирование параметров материалов и полупроводниковых приборов с помощью программных и аппаратных решений Keysight Technologies», который состоится 7 ноября в Москве.

Программа семинара состоит из двух параллельных сессий и включает доклады технических экспертов Keysight Technologies и партнеров: FormFactor, НТНК, Акметрон и Maury Microwave.

Специальными гостями семинара будут эксперты компании FormFactor - Штефен Грауэр и Гэвин Фишер, которые выступят с докладами о решениях для измерения параметров полупроводниковых устройств на пластине, в том числе для испытаний изделий на основе GaN и SiC.

Сессия 1 будет посвящена  тестированию СВЧ полупроводниковых приборов, анализу параметров материалов; сессия 2 - тестированию полупроводниковых устройств по постоянному току, измерению параметров ВАХ и ВФХ.
На странице мероприятия можно подробно ознакомиться с программой и составить свое индивидуальное расписание.

Для участия в семинаре необходимо пройти по ссылке, заполнить заявку и направить ее на электронный адрес: seminar.ru@keysight.com
Подробную информацию, список тем и расписание смотрите также на сайте: www.keysight.ru/find/russia_events.

Дополнительная информация по телефону: +7 495 7973928, +7 4957973919